紫外/可见光照度计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。仪器集紫外辐照度测量和照度测量两种功能于一体，广泛应用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路工业、农业、建筑、环境、卫生、科研等各个领域。
■产品特点
* 光谱及角度特性经严格校正
* 数字液晶显示，带背光
* 手动/自动量程切换
* 数字输出接口（USB冗余供电）
* 低电量提醒
* 自动延时关机
* 有数字保持
* 轻触按键操作，蜂鸣提示
■主要技术指标
照度：
* 测量范围：( 0.1~199.9×103 ) lx
* 相对示值误差：±4％
* V (λ)匹配误差： f1 ≤6%
* 响应时间：＜1秒
* 非线性、换挡、疲劳特性等误差：均符合*照度计标准
紫外辐照度：
* 波长范围及峰值波长：λ：(315~400) nm；λp = 365 nm
* 辐照度测量范围： (0.1～199.9×103) uW/m2
* 带外区杂光： 小于0.02％
* 相对示值误差：±10％
* 线性误差：±1%
* 换档误差：±1%
* 短期不稳定性：±1%（开机30min后）
* 疲劳特性：衰减量小于2%
* 零值误差：满量程的±1%
* 响应时间：1秒
